手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀　型號：DPDM-2

DPDM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。

產(chǎn)品型號：DPDM-2

更新時間：2017-10-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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專用儀器儀表

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手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀　型號：DPDM-2

DPDM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。

主機主要由數(shù)控恒流源，分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。

詳見表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》點擊入

儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

三、基本參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

電阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω

電阻率： 0.010～ 2000Ω-cm，分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm

方塊電阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□

2. 材料尺寸

手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定

直徑：DPD/SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。

DPD/SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

量程（Ω-cm/□）	9.999	99.99	999.9	9999.
電阻測試范圍	0.010～9.999	9.99～99.99	99.99～999.9	999.9～9999
電阻率/方阻	0.010/0.050～9.999	9.99～99.99	99.99～999.9	999.9～2000
基本誤差	±1%FSB±2LSB			±2%FSB±2LSB